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技术指标：
主要探测指标：裂缝，黑点，夹杂（通常为SiC），隐裂，微晶
硅块电阻率：≥0.5Ohm*Cm（推荐）
检测时间：平均每个硅块小于1分钟，两面小于20秒，一面小于5秒
硅块尺寸：210mmx210mmx420mm
分辨率：1280 px*1024px
2560 px*2048px
