产品介绍:
PL光致发光测试系统能够对单晶硅片及电池、多晶硅片及电池、薄膜电池、化合物电池等几乎所用的太阳能电池进行少子寿命扫描、串联电阻扫描、硅片分类、各种缺陷、暗条件I-V 曲线、光照条件I-V 曲线等完整的一系列参数快速准确分析。能够在线和离线对硅片、绒面、扩散、刻蚀、PECVD、电极印刷、烧结、电池片等各个工艺环节进行检测和分析；是分析工艺问题，提高成品率，降低成本必不可少的关键设备，为产品质量和公司品质提供了完全可靠的保障。

产品特点：
■ 适用几乎所有类型硅片&太阳能电池: 单晶硅片及电池/多晶硅片及电池/薄膜电池/化合物电池
■ 完整的检测系统：少子寿命扫描/串联电阻扫描/硅片分类/隐裂/暗条件I-V曲线/光照条件I-V曲线
■ 速度快，每片测试时间小于1秒
■ 精度高，能实时找到每个致少子寿命降低的缺陷
■ 可以监控和优化关键工艺，包括扩散、去磷硅玻璃、PECVD等几乎所有工艺环节
■可以在线和离线分析
■ 功能强大的分析软件，可以分析几乎所有的缺陷
■ 先投入先产出，投入产出比远高于行业的1：2
■ 革命性的产品，未来的趋势所在

技术参数：
■ 铟砷镓传感器：900-1500nm
■ 测试尺寸：23mm*23mm~200mm*200mm
■ 像素：752×480pixel
■ 尺寸：2m×2m*2m 重量：150kg
■每片测试时间<1s

典型客户:
美国，欧洲，亚洲及国内太阳能及半导体客户。