产品介绍:

    MWR-2S-3I是一款功能异常强大的无接触少子寿命扫描测试仪，能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤、高分辨率的多功能扫描测试。一方面，其通过微波光电衰退特性原理来测量非平衡载流子寿命的；另一方面，通过近红外对硅材料的光学特性，探测缺陷。并且单晶硅棒、多晶硅块无须进行特殊处理。此设备是太阳能电池硅片企业、多晶铸锭企业、拉晶企业不可多得的测量仪器。
 


产品特点:

■ 系统功能强大，少子寿命及缺陷同时测量

■ 无接触和无损伤测量

■ 自动测量，具有传送系统，可进行连续测量

■ 快速测量，测试扫描速度达到2000mm/min

■ 测试范围广：包括硅块、硅棒、硅片等

■ 应用于硅棒硅块、硅片的进厂、出厂检查，生产工艺过程中重金属沾污和缺陷的监控等

■ 性价比高，极大程度地降低了企业的测试成本

■ 可以在线实时对产品监控


推荐工作条件:

■ 温度：18-26℃

■ 湿度：10%~80%

■ 大气压：750±30毫米汞柱


技术指标:

■ 主机尺寸：63cm * 36cm *59cm

■ 测试尺寸:190mm*190mm*500mm

■ 测试扫描速度:2000mm/min

■ 电阻率范围：>0.5Ω.cm

■ 硅棒硅块扫描间距：≥1mm

■ 仪器测试精度：±3.5％，信号处理偏差≤2％

■ 少子寿命测试范围:0.1μs-20ms

■ 少子检测激光波长：975nm,测试功率范围：50-500mw

■ 红外波长：2300nm,测试功率范围：50mw

■ 红外探伤可分辨最小尺寸：0.1mm

■ 微波工作频率：10GHz±0.5

■ 微波测试单元功率：0.01W±10%

■ 电源：～220V  50Hz    功耗＜160W

■ 主机重量：32KG


典型客户:

德国，瑞士，美国，日本，俄罗斯及国内河北，江西，江苏，浙江，广西，上海，辽宁等地太阳能硅片及电池客户.。