解决方案 >> 硅料与硅片品质提升解决方案
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    					单晶棒检测时,常会碰到电阻率虚高问题,后续出现问题也很难被察觉,这有时候会让工程师很烦恼,有一种方法可以避免虚高......
  • 硅块硬质点漏检解决方案
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    					切硅块,大家都知道最怕什么,最怕断线!加工工艺不合适会引起断线,操作不当也会引起断线,最主要的是硅块内部硬质点。怎么解决这个硬质点才是关键,那我们来分析一下吧。
  • 氧碳含量超标解决方案
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    					氧含量影响电阻率及少子寿命,碳含量影响到硅片的脆性。那标准是什么,如何解决超标问题,让我们来一起关注......
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    					Si片少子寿命是关键参数,直接决定了电池片的效率。但不同的方法会有不同的结果,如何才能得到想要的真实结果,什么样的方法是可靠的....
  • 硅片碎片率高解决方案
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    					碎片原因很多种,除了人为因素,本身平整度,C含量超标等都会引起碎片。降低成本,减少碎片,来看如何解决?
  • 黑心片黑边片解决方案
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    					黑心与黑边是影响电池片发电效率的严重问题,关于其生成的机理和检测手段,业内多有研究,如何能更好的解决客户问题,也是我们一致努力的方向。
  • 单晶多晶工艺流程
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