合能阳光无接触少子寿命扫描仪(HS-MWR-2S-3)功能强大，能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤、高分辨率的多功能扫描测试，其通过微波光电衰退特性原理来测量非平衡载流子寿命的，并且单晶硅棒、多晶硅块无须进行特殊处理。少子寿命测试量程从0.5μs到300μs,P型电阻率量程为0.8-100Ω.cm,N型电阻率量程为0.5-100Ω.cm，是太阳能电池硅片企业、多晶铸锭企业、拉晶企业不可多得的测量仪器。







产品特点：

■ 无接触和无损伤测量

■ 自动测量，具有传送系统，可进行连续测量

■ 快速测量，测试扫描速度达到2000mm/min

■ 测试范围广：包括硅块、硅棒、硅片等少子寿命测量

■ 主要应用于硅棒硅块、硅片的进厂、出厂检查，生产工艺过程中重金属沾污和缺陷的监控等  

■ 性价比高，极大程度地降低了企业的测试成本



推荐工作条件：

■ 温度：18-26℃

■ 湿度：10%~80%

■ 大气压：750±30毫米汞柱







技术指标：

■ 少子寿命测试范围:0.5μs-300μs

■ 测试扫描速度:2000mm/min

■ 测试尺寸:215mm*215mm*400mm

■ 电阻率范围：

P型：0.8Ω.cm-100Ω.cm（范围之外可测量，但将有一定测试偏差）

N型：0.5Ω.cm-100Ω.cm（范围之外可测量，但将有一定测试偏差）

■ 激光波长：980±30nm,测试功率范围：50-500mw

■ 硅棒硅块扫描间距：≥1mm

■ 仪器测试精度：±3.5％，信号处理偏差≤2％

■ 工作频率：10GHz±0.5

■ 微波测试单元功率：0.01W±10%

■ 电源：～220V 50Hz 功耗＜200W

■ 主机尺寸：365mm * 645mm *565mm

■ 主机重量：30KG



典型用户：

英利新能源、晶晶光电、上海清华、蠡县英利、江西晶科、申和热磁、海润光伏、江苏兆晶、成都蓉威、安徽天翊、桂林尚鼎、山东泰岱、扬州金威、辉煌能源