产品介绍：    
    NIR-PLUS/B检测系统是一款光伏检测的综合分析系统，既采用红外技术对裂纹，孔洞，微结晶，杂质和其他硬质点等进行检测，又使用PL（光致发光）技术对杂质及缺陷分布进行检测，对造成少子寿命降低的原因进行系统的分析。是减低生产成本，提高产品品质，促使公司竞争力革命性增长的必不可少的检测设备。
 



产品特点：


■ PL(光致发光)和红外技术综合分析，并具有3D模块
■ 采用铟镓砷传感器，而非一般厂家采用固定值的模拟摄像管
   具有硬件图像校正和计算机参数控制的功能，其灵敏度好，检测结果与实际情况一致性佳
■ 软件系统为不同产品表面情况及尺寸提供设置菜单，无需硬件上进行设置，方便应用
■ 不仅可以探测标准尺寸的硅块与硅片，而且可以检测无规则尺寸的样品
■ 可直接对单晶，多晶，非晶，化合物等各类型光伏电池进行直接检测
■ 可应用到电池生产中的各工艺检测，对硅块、硅片、绒面、扩散、刻蚀、PECVD、电极印刷、烧结、电池片等各工艺进行检测分析
■ 红外高像素相机，高分辨；得到更多波段的信息，更真实
■ 线形光源，扫描方式收集图像，避免常规照相的光学变形
■ 可轻易获得单位面积上的高强度并可轻易达7suns亮度，比常规1sun具有更高的敏感度，更经济更安全
■ 无需对线光源遮光，避免了对比度下降，信号更真实
■ 高像素红外照相机3年免费保修或更换的承诺 
■ 所有的部件的设计都达到了长期高强度使用及最小维护量的要求
■ 即使在高照明的条件下，我们的相机传感器也几乎没有退化的情况
■ 有多年在欧洲生产销售应用的经验，产品具有优良的工业应用性 

 






技术指标：
■ 设备尺寸： 1000mm[H]×1100mm[W]×800mm[D] +控制PC
■ 设备重量： 166公斤
■ 样品尺寸： 210mm*210mm*450mm（硅块）
              210*210（硅片，可根据客户要求拓展）
■ 检测方式： 离线IR+PL检测；一键式4面检测
■ 检测时间： 20秒（IR）；10-30秒（PL，根据样品大小决定）
■ 成像系统： 铟镓砷红外相机 ，温控，积分控制， 亮度/对比度/伽玛，感光度范围控制
■ 分辨率：   1024 x 2304像素（12/14bit）
■ 检测波长： 900nm-1700nm
■ 激光控制： 电脑控制电源，最大50A
■ 校正方式： 标准样片校准
■ 激光系统： 具用互锁功能的一级高功率近红外激光系统
              警示灯，报警软件联锁功能
              闭路水冷温控系统，满功率系统温度稳定
■ 仪器控制： 接口 - 嵌入式硬件控制，USB控制灵活运用
              数据格式 - “BMP”原始图像+链接
              测量信息的文件，资料，导出为“CSV”格式
■ 符合标准： CE，RoHs

 
部分公开客户名单：
Silicio Solar - Spain 
Pillar JSC - Ukraine
Q-Cell- Germany
PV Crystalox - England
DC Wafers - Spain
Lux s.r.l. – Italy
……
部分实列检测结果
 

PL检测可以轻易的检测到黑心黑边片，PL的优势是全程检测，检测速度快，为生产节省时间和成本，提高产品品质。
 
 

通过IR和PL的共同分析，可以精确划分硅块的头尾线。
 



 
(1) PL结果与uPCD少子寿命结果对比，通过拟合两者间匹配度达98.65%

(2) PL图像能够直观和准确的反应出样品表面的问题，而uPCD不能实现

(3) PL像素可分辨0.175mm2，而uPCD仅可分辨1 mm2
 



    通过PL系统分析，可精确定位到diffusion这一步有问题，diffusion厚度不均，滚轮damage等；后续的工艺乃至最后的电池片结果说明，厚度不均的问题在之后的环节对wafer进行了优化，最后不会明显减低cell效率，而滚轮的damage影响到之后所有的环节，并最终影响到cell效率。
    如需更多内容，请联系合能阳光，或联系进行样品PL检测！