光谱椭偏仪(PH-SE型)针对太阳能电池应用，可测量多晶硅/单晶硅绒面表面单层（二层或多层）减反射膜、和玻璃/有机基底上的薄膜太阳能电池。多层膜和非均匀薄膜的分析也非常出色。 针对太阳能电池应用的光谱椭偏仪基于最佳的椭偏光路设计，高灵敏度探测单元和光谱椭偏仪分析软件，可测量各种太阳能电池的薄膜厚度和光学常数，光学带宽等。



产品特点：

■ 连续波长的光源为用户提供了更大的应用空间

■ 更简便快捷的样品准直方法

■ 软件具备丰富的材料数据库

■ 允许用户自定义色散模型，更方便用户研究新材料的光学性质

■ 全波长多角度同时数据拟合，EMA模型用户多成分化合物和表面粗糙度分析

■ 具有实验数据和模拟数据三维绘图功能

■ 光谱范围宽达250 - 1100nm (可扩展至250-1700nm)

■ 功能强大的光谱椭偏测量与分析软件



技术指标：

■ 光源：氙灯

■ 光斑直径：1-3mm

■ 入射角范围：20°到90°,5°/步

■ 波长范围：350-850nm， 250-1100nm， 250-1700nm：0.002°~ 0.02°

■ 波长精度：1nm

■ 测量时间: < 8s （取决于测量模式和粗糙度）

■ 样品尺寸: 125x125mm 156x156mm,200x200mm电池片, 其他尺寸

■ 测量精度：0.02nm

■ 折射率：0.0002, 100nmSiO2 on Si 

■ 厚度测量范围：0.01nm ~ 50um

■ 消光比：10-6
 
可选配：

■ CCD线阵列探测元件：200-850nm，350-1000nm

■ 样品显微镜

■ 高稳定性消色差补偿器

■ 透射测量架

■ XY移动样品台


典型客户：

美国，欧洲，亚洲及国内太阳能及半导体客户。