太阳能光伏质量检测仪器 >> 电池片质量检测仪器 >> 无接触少子寿命测试仪:HS-SIM
                


    合能阳光无接触少子寿命测试仪(MWR-SIM),是一款功能强大的无接触少子寿命测试仪,能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤单点少子寿命测试,其通过微波光电衰退特性原理来测量非平衡载流子寿命的,并且单晶硅棒、多晶硅块无须进行特殊处理。少子寿命测试量程从0.5μs到300μs,P型电阻率量程为0.8-100Ω.cm,N型电阻率量程为0.5-100Ω.cm,是太阳能电池硅片企业、多晶铸锭企业、拉晶企业不可多得的测量仪器。

产品特点:
无接触和无损伤测量
可移动扫描头,便于测量
测试范围广:包括硅块、硅棒、硅片等少子寿命测量
主要应用于硅棒硅块、硅片的进厂、出厂检查,生产工艺过程中重金属沾污和缺陷的监控等
性价比高,极大程度地降低了企业的测试成本
质保期:1年

 

推荐工作条件:
温度:15-30℃
湿度:10%~80%
大气压:750±30毫米汞柱

 


技术指标:
少子寿命测试范围:0.5μs-300μs
测试尺寸:尺寸不限
测试时间:1-30s(具体和信号质量及测试精度有关)
电阻率范围:P型:0.8Ω.cm-100Ω.cm(范围之外可测量,但将有一定测试偏差)
n型:0.5Ω.cm-100Ω.cm(范围之外可测量,但将有一定测试偏差)
激光波长:980±30nm,测试功率范围:50-500mw,脉冲宽度调节范围:0.5-60μs
工作频率: 10GHz±0.5
仪器测试精度:±3.5%
电源:~220V 50Hz 功耗<30W
微波测试单元功率:0.01W±10%
扫描头尺寸:290mm *200mm *65mm, 电器控制单元: 210mm*220mm*60mm
扫描头重量:3KG,电器控制单元:1kg

典型用户:
河北,江西,江苏,浙江,新疆等地拉晶铸锭客户

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