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检测服务项:半导体行业 >> 材料测试 >> 不限
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中国电子科技集团公司第四十六研究所中世博实验室
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电阻率均匀性
中国电子科技集团公司第四十六研究所中世博实验室
四探针电阻测试仪(CRESBOX)
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Ⅲ-Ⅴ族杂质
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中国电子科技集团公司第四十六研究所中世博实验室
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北京有色金属研究总院分析测试技术研究所
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北京有色金属研究总院分析测试技术研究所
电阻率
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北京有色金属研究总院分析测试技术研究所
氧、碳含量
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硅外延层厚度
北京有色金属研究总院分析测试技术研究所
外延层厚度
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晶向测试
北京有色金属研究总院分析测试技术研究所
单晶晶向/主参考面晶向
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电阻率均匀性
中科院微电子设备技术研究室
四探针电阻测试仪(CRESBOX)
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硅外延层厚度
中科院微电子设备技术研究室
椭偏仪
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单晶位错密度
中科院微电子设备技术研究室
研究级数码金相显微镜
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硅外延层厚度
中科院微电子设备技术研究室
椭偏仪
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中科院微电子设备技术研究室
研究级数码金相显微镜
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霍尔系数
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中科院微电子设备技术研究室
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X射线衍射仪
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中科院微电子设备技术研究室
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