当前位置：检测仪器 >> 外延层厚度 
                
        用红外反射法测量重掺杂硅衬底上轻掺杂硅外延层厚度的标准方法 SEMIMF 95-110


        重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法 GB/T 14847-19937
帮助中心| 联系我们|新闻中心|Newsletter|网站地图|邮件系统|法律声明
版权所有：2008-2050合能阳光 京ICP备18015141号-1
京ICP备18015141号-1