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本仪器主要用于量测电子材料重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等。薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。除了用来判断半导体材料导电类型(n或p)以外，它还可应用于LED外延层的质量判定、判断在HEMT组件中二维电子气是否形成以及太阳能电池片的制程辅助。
