设备简介
         Lam750(S)型紫外/可见/近红外分光光度计的光学系统为双光束，双单色器，四区分段的扇形信号收集的斩波器，低杂散光指标，用于材料定性的无损测定。带60mm积分球和软件的Lambd750 紫外/可见（近红外）分光光度计，波长范围： Lambda750为190～2500nm，整机及光学系统采用宇航技术的硬件：整个光学系统均采用涂覆SiO2的全息刻线光栅(紫外/可见刻线数为1440条/mm，近红外360条/mm)，分光系统采用最先进的CSSC技术（四区分段的扇形信号收集的斩波器技术，黑区/样品/黑区/参比循环）采用预校准并可自动切换的碘钨灯与氘灯；宽大的样品仓：可放入各种附件并将光路调整至最佳，可选附件最多（如积分球、固定/可变角的相对/绝对镜反射附件等）稳定性好、基线平直度高、杂散光极低! 仪器及其稳定、经久耐用。
主要技术参数及功能
         ＊ 电压：220VAC±10%
         ＊ 室温：15～30℃
         ＊ 相对湿度：20%～80%
         ＊ 光学系统：双光束，双单色器,整个光学系统采用涂有SiO2保护层的反射光学元件，全息刻线光栅刻线密度为1440条/mm（紫外可见）、360条/mm(近红外)，四区分段的扇形信号收集的斩波器。             
         ＊ 光谱范围：190-2500nm ，波长指示：0.01nm步进 
        ＊ 检测器：光电倍增管（UV～VIS），冷的PbS（NIR）          
        ＊ 带宽：带宽指示：自动控制
        （1）UV～VIS：0.17nm～5nm， 0.01nm步进
        （2）NIR：0.20nm～20.00nm，0.04nm步进    
        ＊ 波长精确度：自动波长校正。
                                （1）UV～VIS：±0.15nm；
                                （2）NIR：±0.1nm。 
        ＊波长重复性：
                                （1）UV～VIS：±0.06nm。
                                （2）NIR：±0.1nm。           
         ＊ 杂散光：0.00008%(NaI220nm10g/L光
                              0.00005%(NaNO2340nm50g/L光程10mm)；
                              0.0015%(氯仿1690nm光程10mm)
        ＊ 光度计准确度：0 ~0.5Abs，±0.0006Abs；0.5 ~1.0Abs，±0.0012Abs；遵循NISTSRM930方法为±0.3%T。
        ＊ 光度计重复性：小于0.001A。
        ＊ 基线平直度： <±0.0008Abs；
        ＊ 仪器线性范围：6A                 
        ＊ 噪声：＜0.00005A。